国产欧美久久一区二区三区-国产av一区二区三区色噜噜-中文字幕在线亚洲一区-日韩欧美高清在线一区二区

歡迎來到深圳市矢量科學儀器有限公司網(wǎng)站!
咨詢熱線

當前位置:首頁  >  產品中心  >  半導體分析測試設備  >  分析測試設備  >  掃描電鏡SEM

掃描電鏡SEM

簡要描述:掃描電鏡SEM簡介:FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構,因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等領域。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-09-06
  • 訪  問  量: 1011

詳細介紹

一、產品概述:

掃描電鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)是一種高分辨率的顯微鏡,利用電子束掃描樣品表面以獲取其形貌和組成的信息。SEM能夠提供詳細的三維表面圖像,廣泛應用于材料科學、電子工程、生物學和地質學等領域。

二、設備用途/原理

·設備用途

EM主要用于材料表面的形貌分析、微觀結構觀察和成分分析。它在半導體器件的缺陷檢測、金屬和合金的微觀結構研究、以及生物樣品的形態(tài)觀察中發(fā)揮著關鍵作用。SEM還常用于材料的質量控制和研發(fā)過程中的性能評估。

·工作原理

SEM的工作原理是將高能電子束聚焦到樣品表面,電子束與樣品相互作用產生二次電子、反射電子和特征X射線等信號。通過收集這些信號,SEM能夠生成樣品表面的高分辨率圖像。電子束的掃描可通過計算機控制,實現(xiàn)多角度觀察和深度信息提取。由于其高分辨率和大景深特性,SEM能夠提供豐富的樣品表面信息,助力多領域的研究和應用。

三、主要技術指標:

1. FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構,因此被廣泛應用于納米技術 、半導體、電子器件、生命科學、材料等域

2. 電子槍種類:冷場發(fā)射

3. 二次電子圖象分辨率:0.6 nm@15kV;0.7nm@1kV

4. 放大倍數(shù):20-2,000,000x

5. 加速電壓:0.5-30kV




產品咨詢

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯(lián)系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數(shù)字),如:三加四=7