一、產(chǎn)品概述：

探針臺是一種用于微小電子元件和材料的測試設備，廣泛應用于半導體、材料科學和微電子領域。它提供一個穩(wěn)定的平臺，用于精確定位和連接探針，以實現(xiàn)對樣品的電氣測試和分析。

二、設備用途/原理：

·設備用途

探針臺主要用于測試集成電路、薄膜材料和微結構等的電氣性能。常見應用包括半導體器件的參數(shù)測試、材料的電阻率測量和故障分析等。通過高精度的定位和可調節(jié)的探針，研究人員能夠獲取樣品的詳細電氣特性。

·工作原理

探針臺的工作原理是通過機械系統(tǒng)將探針精確地定位到樣品的特定接觸點。設備通常配備高分辨率的光學系統(tǒng)，用于觀察樣品并調整探針的位置。當探針接觸樣品時，可以通過外部測試設備（如源測量單元）施加電流或電壓，并測量相應的電壓或電流反應。通過這種方式，研究人員可以獲取樣品的電氣參數(shù)，分析其性能和特性。

三、主要技術指標：

1. 探針臺主要應用于晶圓、芯片、器件、封裝等半導體制程測試環(huán)節(jié)

2. 樣品尺寸：碎片~12英寸

3. 自動化：手動、半自動、全自動

4. 測試環(huán)境：高低溫、磁場、真空

5. 探針臺類型：分析探針臺、直流、射頻、高壓、毫米波、太赫茲、硅光測量、芯片測量、定制化等。