1. 產(chǎn)品概述

FTPadv Expert薄膜測量軟件具有FTPadv標準軟件中包含的用戶友好和以配方為導向的操作概念。突出顯示擬合參數(shù)、測量和計算的反射光譜以及主要結(jié)果的光學模型同時顯示在操作屏幕上。

2. 主要功能與優(yōu)勢

n、k 和厚度的測量

該軟件包設計用于 R（λ） 和 T（λ） 測量的高分析。

多層分析

可以測量單層薄膜和層疊的每一層的薄膜厚度和折射率。

大量的色散模型

集成色散模型用于描述所有常見材料的光學特性。通過使用快速擬合算法改變模型參數(shù)，將計算出的光譜調(diào)整為測量的光譜。

3. 靈活性和模塊化

SENTECH FTPadv Expert 軟件包用于光譜數(shù)據(jù)的高分析，根據(jù)反射和透射測量結(jié)果確定薄膜厚度、折射率和消光系數(shù)。它擴展了SENTECH FTPadv薄膜厚度探頭的標準軟件包，適用于更復雜的應用，包括光學特性未知或不穩(wěn)定的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收性基材上測量單個透明或半透明薄膜的薄膜厚度、折射率和消光系數(shù)。該軟件允許分析復雜的層堆棧，并且可以確定堆棧的每一層的參數(shù)。

我們的FTPadv Expert薄膜測量軟件具有FTPadv標準軟件中包含的用戶友好和以配方為導向的操作概念。突出顯示擬合參數(shù)、測量和計算的反射光譜以及主要結(jié)果的光學模型同時顯示在操作屏幕上。

該軟件包包括一個大型且可擴展的材料庫，該庫基于表格材料文件以及參數(shù)化色散模型。

FTPadv Expert 軟件可選用于膜厚探頭 FTPadv，以及反射儀 RM 1000 和 RM 2000 軟件包的一部分。