全自動超聲波掃描顯微鏡

簡要描述：PVA TePla SAM 全自動系列的全自動超聲波掃描顯微鏡能夠無損檢測空洞、空隙、氣泡、夾雜物和分層，是圓檢測、焊接界面檢查、MEMS檢測、以及各類電子封裝檢測的理想選擇。該系列配有自動缺陷檢測軟件包，可對各種缺陷類型進行全自動化評估，檢測結(jié)果可以以klarf文件和VEGA MAP的形式發(fā)布，同時支持鏈接GEM/SECS。根據(jù)所需分析樣品，可以選擇不同掃描儀配置，如：4×1、4×2或4×4。

產(chǎn)品型號：SAM全自動
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2024-08-13
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